中圖儀器SJ5800系列表面粗糙度輪廓測(cè)量?jī)x可以對(duì)零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實(shí)現(xiàn)一次掃描測(cè)量，尤其是大范圍曲面、斜面進(jìn)行粗糙度檢測(cè)，如圓弧面和球面、異型曲面進(jìn)行多種粗糙度參數(shù)、微觀輪廓度參數(shù)的測(cè)量。同時(shí)儀器還可對(duì)各種精密零件輪廓度、波紋度進(jìn)行測(cè)量，對(duì)形狀參數(shù)進(jìn)行分析。是大曲面測(cè)量（軸承、人工關(guān)節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、光學(xué)鏡片）領(lǐng)域精細(xì)粗糙度測(cè)量的利器。

產(chǎn)品功能

1.一次測(cè)量可同時(shí)評(píng)定粗糙度及輪廓參數(shù)，分析評(píng)定R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)等微觀粗糙度參數(shù)及倒角、R角、直線度、位置尺寸、角度的宏觀輪廓參數(shù)；

2.表面粗糙度評(píng)定： R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)、核心粗糙度Rcore、Motif等微觀粗糙度參數(shù)評(píng)定；

3.圓球類零件輪廓及粗糙度參數(shù)測(cè)量評(píng)定；

4.表面輪廓評(píng)定：評(píng)定任何點(diǎn)/線間距、兩線夾角、圓弧半徑、直徑等幾何量尺寸參量，并可對(duì)輪廓進(jìn)行直線度、圓度、輪廓度、平行度、位置度、垂直度等分析，重新分析和測(cè)量的操作簡(jiǎn)潔高效；

5.尺寸標(biāo)注：半徑、兩圓中心距離、X/Z尺寸、斜邊、兩線夾角、直線相交、直線與圓弧相交、圓弧與圓弧相交、尺寸標(biāo)注線大小修改、線偏移、局部輪廓放大和調(diào)平等；

6.測(cè)量記錄采用集中式數(shù)據(jù)庫管理，可按被測(cè)件類型、生產(chǎn)單位、出廠編號(hào)、檢測(cè)員、送檢單位、設(shè)備編號(hào)、檢定日期和有效日期等查詢和管理測(cè)量記錄；

7.輸出多種格式報(bào)表(.doc，.docx，.xlsx，.pdf)，并支持自定義報(bào)表，定制測(cè)量記錄報(bào)表，可批量打印記錄表，具有數(shù)據(jù)備份和還原數(shù)據(jù)庫功能；

8.具備自動(dòng)找拐點(diǎn)功能，能按照程序設(shè)置進(jìn)行X軸自動(dòng)找拐點(diǎn)；

9.成熟簡(jiǎn)單的標(biāo)定，儀器自帶高精度組合標(biāo)定臺(tái)，可對(duì)儀器的精度和測(cè)針磨損進(jìn)行精確補(bǔ)償；

10.可進(jìn)行DXF（CAD）格式圖紙導(dǎo)入，進(jìn)行理論圖紙與測(cè)量結(jié)果比對(duì)分析，可提供直觀圖形對(duì)比；

11.可導(dǎo)出坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)（.TXT）等格式，可讀取到Excel或者CAD軟件內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析及標(biāo)準(zhǔn)輪廓比對(duì)；

12.可對(duì)多次測(cè)量的輪廓曲線匹配后進(jìn)行分析測(cè)量重復(fù)性。

高精度、高穩(wěn)定性、高重復(fù)性：滿足被測(cè)件測(cè)量精度要求

1)系統(tǒng)掃描軸采用特殊的超高耐磨材質(zhì)復(fù)合材質(zhì)摩擦片，耐磨性能優(yōu)良，穩(wěn)定性高，能保障系統(tǒng)長時(shí)間的穩(wěn)定的直線度精度；

2)高精度轉(zhuǎn)軸采用特殊的高剛性、低慣量、超低摩擦系數(shù)的紅寶石轉(zhuǎn)軸系統(tǒng)，確保了轉(zhuǎn)動(dòng)的超高靈敏度及測(cè)量精度；

3)超高穩(wěn)定的驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)，確保了驅(qū)動(dòng)運(yùn)行過程中不產(chǎn)生任何的振動(dòng)及干擾，保障了系統(tǒng)掃描運(yùn)動(dòng)精度；

4)高精度的納米級(jí)光學(xué)轉(zhuǎn)軸測(cè)量系統(tǒng)，保障了儀器超高的分辨率及全程納米級(jí)粗糙度測(cè)量精度；

5)一體式拔插式碳纖維測(cè)桿、高剛性、低慣量，一鍵拔插，特殊設(shè)計(jì)的高剛性拔插結(jié)構(gòu)，無需鎖螺釘，方便快捷、穩(wěn)定可靠；

SJ5800系列表面粗糙度輪廓測(cè)量?jī)x超高精度衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍，分辨率高達(dá)0.1nm，系統(tǒng)殘差小于2nm。